X射線探傷機無損檢測設(shè)備助力IC行業(yè)發(fā)展

近年來，有關(guān)部門對IC產(chǎn)品質(zhì)量的檢測越來越嚴格。雖然檢測嚴格，但一直有一些企業(yè)選擇無視產(chǎn)品質(zhì)量，頂風而上冒險以獲取利潤。這導致一些假冒偽劣產(chǎn)品泛濫市場，給很多消費者帶來傷害。

在芯片制造行業(yè)，我國還沒有一家企業(yè)可以和國外一些高端技術(shù)芯片制作商抗衡，而且高昂的產(chǎn)品價格成本已導致一些制造商轉(zhuǎn)向供應商以達到不合格產(chǎn)品的水平。出于良好目的，這將導致較低的產(chǎn)品質(zhì)量和較低的價格，這也將對整個市場的正常經(jīng)濟發(fā)展產(chǎn)生重大影響。

為了能夠有效的對產(chǎn)品質(zhì)量進行檢測，許多測試設(shè)備已經(jīng)在國內(nèi)市場上出現(xiàn)，例如普通的AOI進行超聲檢測，然后再進行X射線探傷機探傷檢測。每次開發(fā)測試設(shè)備并進行創(chuàng)新時，其最大目的就是能夠檢查產(chǎn)品的質(zhì)量。其實AOI會檢查產(chǎn)品的外觀，而無法檢查產(chǎn)品的內(nèi)部；盡管超聲測試是一種非破壞性測試，但其缺點是無法更好地保存測試結(jié)果。探傷檢測將完全克服前兩種檢測方法的缺點。不僅可以檢測產(chǎn)品的內(nèi)部缺陷，而且可以圖像形式保存產(chǎn)品的分析投影。這種檢測方法對于以后的分析和比較起了非常關(guān)鍵的作用。

作為市場上使用最廣泛的產(chǎn)品，可以想象IC芯片質(zhì)量的重要性。對于市面上那些外觀逼真但內(nèi)部結(jié)構(gòu)有缺陷的IC芯片，肉眼顯然是不可能的。為了區(qū)分它們，只有在X射線探傷機檢查設(shè)備的準確，高效的檢查下，這些缺陷才能得到很好的補償，從而保護IC芯片的質(zhì)量