陶瓷管X射線探傷機(jī)被測物體各部分的厚度或密度因缺陷的存在而有所不同。當(dāng)X射線或γ射線在穿透被檢物時(shí),射線被吸收的程度也將不同。若射線的原始強(qiáng)度為I0,通過線吸收系數(shù)為 μ的材料至距離l后，強(qiáng)度因射線探傷被吸收而衰減為I，其關(guān)系為。若將受到不同程度吸收的射線投射在X射線膠片上,經(jīng)顯影后可得到顯示物體厚度變化和內(nèi)部缺陷情況的照片（X射線底片）。這種方法稱為X射線照相法。如用熒光屏代替膠片直接觀察被檢物體，稱為透視法。如用光敏元件逐點(diǎn)測定透過后的射線強(qiáng)度而加以記錄或顯示，則稱為儀器測定法。

陶瓷管X射線探傷機(jī)即是使用x射線穿透物體進(jìn)行內(nèi)部查看的的一種探傷辦法。遇見缺點(diǎn)（面積型缺點(diǎn)對比有效），射線能量會(huì)發(fā)作削弱，這么底片上就會(huì)成像，類似咱們照相的底片。在觀片燈下就可以調(diào)查了。

陶瓷管X射線探傷機(jī)是使用超聲能透入金屬資料的深處，并由一截面進(jìn)入另一截面時(shí)，在界面邊際發(fā)作反射的特點(diǎn)來查看零件缺點(diǎn)的一種辦法，當(dāng)超聲波束自零件外表由探頭通至金屬內(nèi)部，遇到缺點(diǎn)與零件底面時(shí)就分別發(fā)作反射波來，在熒光屏上構(gòu)成脈沖波形，依據(jù)這些脈沖波形來判別缺點(diǎn)方位和大小。