被測(cè)物體各部分的厚度或密度因缺陷的存在而有所不同。當(dāng)X射線或γ射線在穿透被檢物時(shí),射線被吸收的程度也將不同。若射線的原始強(qiáng)度為I0,通過(guò)線吸收系數(shù)為 μ的材料至距離l后，強(qiáng)度因射線探傷被吸收而衰減為I，其關(guān)系為。若將受到不同程度吸收的射線投射在X射線膠片上,經(jīng)顯影后可得到顯示物體厚度變化和內(nèi)部缺陷情況的照片（X射線底片）。這種方法稱(chēng)為X射線照相法。如用熒光屏代替膠片直接觀察被檢物體，稱(chēng)為透視法。如用光敏元件逐點(diǎn)測(cè)定透過(guò)后的射線強(qiáng)度而加以記錄或顯示，則稱(chēng)為儀器測(cè)定法。

        玻璃管X射線探傷機(jī)是在高真空狀態(tài)下用高速電子沖擊陽(yáng)極靶而產(chǎn)生的。γ射線是放射性同位素在原子蛻變過(guò)程中放射出來(lái)的。兩者都是具有高穿透力、波長(zhǎng)很短的電磁波。不同厚度的物體需要用不同能量的射線來(lái)穿透，因此要分別采用不同的射線源。例如由X射線管發(fā)出的X射線（當(dāng)電子的加速電壓為400千伏時(shí)），放射性同位素60Co所產(chǎn)生的γ射線和由 20兆電子伏直線加速器所產(chǎn)生的X射線，能穿透的最大鋼材厚度分別約為90毫米、230毫米和600毫米。

        玻璃管X射線探傷機(jī)法能較直觀地顯示工件內(nèi)部缺陷的大小和形狀,因而易于判定缺陷的性質(zhì),射線底片可作為檢驗(yàn)的原始記錄供多方研究并作長(zhǎng)期保存。但這種方法耗用的X射線膠片等器材費(fèi)用較高,檢驗(yàn)速度較慢，只宜探查氣孔、夾渣、縮孔、疏松等體積性缺陷，而不易發(fā)現(xiàn)間隙很小的裂紋和未熔合等缺陷以及鍛件和管、棒等型材的內(nèi)部分層性缺陷。此外，射線對(duì)人體有害，需要采取適當(dāng)?shù)姆雷o(hù)措施。